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구분 : 소액,무상
투과전자현미경(TEM)에서 스트레인 실험을 위한 금속시편의 구조 및 그 제작방법

투과전자현미경(TEM)에서 스트레인 실험을 위한 금속시편의 구조 및 그 제작방법

페이지 정보

등록번호
10-1259772
등록일자
2013.04.25
국가
대한민국
발명자
정종만(50),권희석(10),문원진(40)
내 용
본 발명은, 양쪽의 단부에 고정용홀이 각각 형성되어 있고, 중앙에는 길이방향으로 형성된 관찰부(A)과, 상기 관
찰부(A)과 슬롯에 의해 이격되어 있으며 관찰부(A)를 보호하고 형태를 유지시켜주는 길이방향의 지지부(B)를 가
지는, TEM에서 스트레인 실험을 위한 시편에 있어서, ① 상기 지지부(B)는 상기 관찰부(A)의 일측면에만 형성되
어 있고, ② 상기 관찰부(A) 중앙의 지지부(B) 반대쪽 측단면부에는 미세박판 영역이 형성되어 있는 시편 및 이
의 제조방법에 관한 것이다.
본 발명에 의하면 시료의 모양이나 시료의 특정부위에 대한 제약이 없이 관찰부(A)에만 균일한 미세박판이 형성
된 금속 시편을 제작할 수 있게 된다.

소액/무상기술 나눔 담당자 : 육형갑 (042-865-3519 / yukhg@kbsi.re.kr )