본 발명은 광학현미경(light Microscope)과 전자현미경(Electron Microscope)의 연계 측정을 위한 워크 스테이션에 관한 것으로, 광학현미경에 시편 그리드를 위치시키는 워크 스테이션(10)의 상면에 형성되어 내부에 상기 시편 그리드를 냉각시키기 위한 액체질소가 공급되는 냉각제 수용부(310)와, 상기 냉각수 수용부(310)와 수용부 격벽(323)에 의해 분리된 공간에 상기 시편 그리드를 위치시키는 그리드 수용홈(340) 및 상기 그리드 수용홈(340)의 일측부에 외부와 이어지는 관통공(156)이 구비된 그리드 수용부(150)를 포함하고, 상기 그리드 수용부(150)의 외부에 구비되는 냉각기(170)로부터 액체질소가 공급되는 연장관(180)의 선단에 상기 시편 그리드를 안착시키는 안착 헤드(380)가 형성되어, 상기 안착 헤드(380)를 상기 관통공(156)으로 삽입하여 상기 그리드 수용부(150)에 위치시키도록 탈부착되는 시편 장착 홀더(14)가 포함된 것을 특징으로 하는 광학현미경과 전자현미경의 연계형 이미징 검출을 위해 초저온 전자현미경 시편장착 홀더를 포함하는 워크 스테이션과 이를 포함한 연계형 이미징 검출장치 및 이를 이용한 이미징 검출 방법과 이미징 시스템에 관한 것이다.