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지식재산권
구분 특허
기술명 (국문) 전자에너지 손실분광분석법을 활용한 유기 재료의 구조 이미징 방법
기술명 (영문)
등록번호 10-2495839 등록일자 20230131
국가 대한민국
발명자 장재혁,대균성
발명의 내용
KIPRIS 정보 정보보기