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지식재산권
구분 특허
기술명 (국문) 미세 시편의 특성 측정 방법 및 장치
기술명 (영문) METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING PROPERTIES OF MICROSCOPIV SPECIMENS
등록번호 10-2592539 등록일자 20231018
국가 대한민국
발명자 홍웅기,윤종원
발명의 내용
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