기술이전

 
지식재산권
구분 특허
기술명 (국문) 확장된 곡률반경 범위를 갖는 부분 영역 형상 측정 장치
기술명 (영문) APPARATUS FOR MEASURING SUB-APERTURE WITH SURFACE EXTENDED RADIUS OF CURVATURE RANGE
등록번호 10-2543317 등록일자 20230609
국가 대한민국
발명자 현상원,김건희,김이종
발명의 내용
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