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지식재산권
구분
특허
기술명 (국문)
확장된 곡률반경 범위를 갖는 부분 영역 형상 측정 장치
기술명 (영문)
APPARATUS FOR MEASURING SUB-APERTURE WITH SURFACE EXTENDED RADIUS OF CURVATURE RANGE
등록번호
10-2543317
등록일자
20230609
국가
대한민국
발명자
현상원,김건희,김이종
발명의 내용
KIPRIS 정보
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