기술이전

 
지식재산권
구분 특허
기술명 (국문) 전자현미경의 수차 값을 예측하기 위한 장치 및 그 동작 방법
기술명 (영문) APPARATUR TO PREDICT ABERRATION OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OPPERATING METHOD OF THEREOF
등록번호 10-2490174 등록일자 20230116
국가 대한민국
발명자 한철수,김진규,이상철
발명의 내용
KIPRIS 정보 정보보기