KBSI 성과확산중소기업지원

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지식재산권
구분	특허
기술명 (국문)	전자현미경의 수차 값을 예측하기 위한 장치 및 그 동작 방법
기술명 (영문)	APPARATUR TO PREDICT ABERRATION OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OPPERATING METHOD OF THEREOF
등록번호	10-2490174	등록일자	20230116
국가	대한민국
발명자	한철수,김진규,이상철
발명의 내용
KIPRIS 정보	정보보기