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지식재산권
구분 특허
기술명 (국문) 질량 분석 시스템 및 질량 분석 방법
기술명 (영문) MASS SPECTROMETRY SYSTEM AND METHOD
등록번호 11398375 등록일자 20220726
국가 미국
발명자 최명철,최창민,이상주,백지영,민부기
발명의 내용
KIPRIS 정보