| 구분 | 특허 | ||
|---|---|---|---|
| 기술명 (국문) | 광열반사 스펙트럼 측정장치 및 이의 동작 방법 | ||
| 기술명 (영문) | APPARATUS OF MEASURING PHOTOTHERMAL REFLECTANCE SPECTRUM AND OPERATING METHOD THEREOF | ||
| 등록번호 | 10-2229881 | 등록일자 | 20210315 |
| 국가 | 대한민국 | ||
| 발명자 | 김정대,장기수,정찬배,김동욱,한일규 | ||
| 발명의 내용 | 광열반사 스펙트럼 측정장치가 개시된다. 일 실시예는 여기 광 신호를 출력하는 파장가변 연속파 광원부; 주파수를 기초로 상기 여기 광 신호를 변조하는 변조부 -상기 변조된 여기 광 신호는 샘플의 나노 구조체의 온도 변화를 야기함-; 프로브 광 신호가 상기 샘플에 조사되도록 상기 프로브 광 신호를 출력하는 프로브 광원부; 상기 조사에 의해 상기 샘플로부터 반사된 프로브 광 신호를 검출하는 제1 검출부 -상기 반사된 프로브 광 신호에는 상기 온도 변화에 의해 발생하는 이벤트가 반영됨-; 조명 광 신호가 상기 샘플로 조사된 경우, 상기 조명 광 신호가 상기 나노 구조체에 의해 산란된 산란 신호를 수집하는 제2 검출부, 및 상기 제2 검출부의 검출 결과를 기초로 상기 나노 구조체를 찾고 상기 제1 검출부의 수집 결과를 기초로 상기 나노 구조체의 광열반사 이미지를 생성하는 제어부를 포함한다. | ||
| KIPRIS 정보 | 정보보기 | ||
042.865.3500