| 구분 | 특허 | ||
|---|---|---|---|
| 기술명 (국문) | 복합 현미경 시스템 | ||
| 기술명 (영문) | DUAL MODE MICROSCOPE STYSTEM | ||
| 등록번호 | 10-2143484 | 등록일자 | 20200805 |
| 국가 | 대한민국 | ||
| 발명자 | 이계승,장기수 | ||
| 발명의 내용 | 일 실시 예에 따른 복합 현미경 시스템은 시료를 지지하는 시료 홀더, 상기 시료 및 기준 미러를 향해 광대역 광을 전달하고, 상기 시료 및 기준 미러로부터 반사되는 광이 서로 간섭되어 형성되는 스펙트럼 이미지에 기초하여 상기 시료의 단층 이미지를 형성하는 광간섭 현미경 모듈 및 상기 시료를 향해 레이저 펄스를 조사한 이후, 여기 되는 다광자를 포함하는 여기 광을 계측하여 상기 시료의 비선형 이미지를 형성하는 비선형 현미경 모듈을 포함할 수 있다. | ||
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042.865.3500