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426
건
엑셀 다운로드
특허
등록번호
10-2116618
광학 시편 표면 검사 장치 및 그 제어 방법
대한민국
20200522
특허
등록번호
10-2110688
질량 분석기 및 질량 분석 방법
대한민국
20200507
특허
등록번호
10641714
웨이퍼 검사장치
미국
20200505
특허
등록번호
3190395
온도 분포 측정 장치 및 방법
독일
20200422
특허
등록번호
3190395
온도 분포 측정 장치 및 방법
프랑스
20200422
특허
등록번호
10-2102958
열팽창 밸브, 그리고 이를 포함하는 저온 냉각 시스템
대한민국
20200414
특허
등록번호
10-2102178
플라즈마 분산 시스템
대한민국
20200413
특허
등록번호
10-2101561
신생혈관 표적용 조영제 조성물 및 이의 제조방법
대한민국
20200409
특허
등록번호
10-2098462
αvβ3 인테그린 표적 단일 도메인 항체
대한민국
20200401
디자인·상표
등록번호
40-1590937
EMPS
대한민국
20200330
이전
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