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논문

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지식재산권
논문명 (국문)
논문명 (영문) Structural characterization and transistor properties of thickness-controllable MoS 2 thin films
발표저널 정예슬
SCI여부 SCI 권/호 54권10호
IF 2.993 페이지 7758-7767
발표국가 미국 발표년도 2019
발표일자 2019-05-30
내부저자 성지영,윤장희,최윤주,진종성,정예슬
활용장비 비행시간차이차이온질량분석기(PH412)전계방사 투과전자현미경(SU09)
DOI 10.1007/s10853-019-03435-6
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