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Open World-class Research Platform, KBSI

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지식재산권

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구분 특허
기술명 (국문) 투과 전자 현미경의 고니오미터에 대한 틸팅 각도 제어 방법
기술명 (영문) METHOD FOR CONTROLLING THE TILTING ANGLE OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY GONIOMETER
등록번호 10-1939497 등록일자 20190110
국가 대한민국
발명자 김진규,유승조
발명의 내용 일 실시 예에 따르면 투과 전자 현미경은, 나노 구멍이 형성된 교정 시편; 상기 교정 시편을 틸팅 가능한 고니어미터; 및 상기 나노 구멍의 투영 면적에 기초하여 상기 교정 시편의 실제 틸팅 각도를 측정 가능한 제어부를 포함할 수 있다.
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