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지식재산권

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구분 특허
기술명 (국문) 전자현미경 복수 시료 연속관찰 시스템
기술명 (영문) System for Observing Plural Specimens of Electron Microscope
등록번호 10-1804223 등록일자 20171128
국가 대한민국
발명자 권희석,정종만,허양훈,김진규,이상철,한철수
발명의 내용 본 발명은 경통 외부에 층상으로 장착되어 있는 복수 시료가 순차적으로 전자현미경 경통으로 삽입되어 관찰할 수 있도록 함으로써 시료 관찰 소요시간을 대폭 절약하고, 복수의 시료를 연속 관찰할 수 있도록 하는 전자현미경 복수 시료 연속관찰 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 (A) 시료가 장착되는 판형의 시료장착판; (B) 내부에 상기 복수개의 시료장착판이 층상으로 적층되는 결합부, 관찰이 완료된 시료장착판을 보관하는 보관부, 및 상기 시료장착판이 하나씩 전자현미경의 경통부 내부로 왕복이동되어 시료스테이지에 장착-탈착될 수 있도록 경통부와 연통된 개방구가 형성되어 있는 밀폐형 시료챔버; (C) 시료챔버의 결합부에 적층된 것 중 하나의 시료장착판과 임시결합하고 밀어서 상기 시료장착판을 경통부 내의 시료스테이지에 장착하고, 관찰이 종료되면 당겨서 상기 보관부로 이송한 후 임시결합을 해제하여 관찰이 종료된 시료장착판을 보관부로 이송하는 이송수단;을 포함하는 전자현미경용 복수 시료 연속관찰 시스템에 관한 것이다.
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